Tepla Kirchheim | Plasma Systems
Sprache:
English
German
Suche:
Navigation überspringen
Home
Über Uns
Firmengeschichte
Firmenprofil
Kernkompetenz
PVA TePla Niederlassungen
Aktuelles
Applikationen
Fotolackprozesse
Fotolackentfernen
Entfernen von Opferschichten
Descumming nach Lithografie
Polymer Entfernen
Oberflächenaktivierung
Solarzellen Kantenätzen
Metrologie
Scherstress in Wafern
Scherstress an Bauelementen
Implantationsüberwachung
Oberflächenkontamination
Ultraschall Inspektion
3D IC / Dünnwafer
Veraschung
Reinigung von Oberflächen
Aktivierung von Oberflächen
Passivierung von Oberflächen
Spannungsreduzierung
Dünnen von Halbleiterscheiben
Ultraschallinspektion
Semiconductor Packaging
Oxid reduzieren
Oberflächen reinigen
Oberflächen aktivieren
Freilegen / Ätzen
Ultraschall Inspektion
Industrie / Medizintechnik
Aktivierung
Reinigung
Dekontamination
Beschichtung
Produkte
Batch Systeme
GIGAbatch 310M
GIGAbatch 360/380M
GIGAbatch 360/380P
GIGA 690
IoN Serie
F&E Systeme
Einzelwaferanlagen
GIGAfab M
GIGAfab A
GIGAfab Modular
GIGAfab Gen2
Metrologiesysteme
SIRD und SIRIS Stressmessung
SIREX Stressmessung
TWIN Implantmonitor
VPD Analysesysteme
Akustische Mikroskope
Strip Type Systeme
80 Plus
Atmosphären-Plasma
Plasma Pen
Desmearing Systems
PS 4031 / 4061 / 4081
Dienstleistungen
Prozessunterstützung
Analysesysteme
JenaWave Mess-Service
Gebrauchtanlagen
Anlagenüberholung
Frühere Systeme
Kontakt
So finden Sie uns
Schreiben Sie uns
TePla Weltweit
Messen und Veranstaltungen
Home
Über Uns
Firmenprofil
Firmenprofil